本實(shí)用新型涉及一種基于矩陣分解的微波熱成像無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng),包括微波激勵(lì)裝置和熱成像監(jiān)測(cè)裝置;微波激勵(lì)裝置包括微波信號(hào)發(fā)生器、微波信號(hào)放大器、微波激勵(lì)傳感器和吸波材料;熱成像監(jiān)測(cè)裝置包括熱像儀、數(shù)據(jù)采集處理裝置;數(shù)據(jù)采集處理裝置分別與微波信號(hào)發(fā)生器和熱像儀連接,從而獲得被測(cè)物的溫度變化數(shù)據(jù)。該基于矩陣分解的微波熱成像無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)能夠解決對(duì)不同類型缺陷進(jìn)行快速成像和分離,突出缺陷范圍熱空間模式特征提取,解決了鄰近缺陷由于溫度混疊無(wú)法定位、分離和亞表面缺陷損傷面積難以有效量化問(wèn)題;解決了對(duì)缺陷的自動(dòng)分離問(wèn)題,能對(duì)不同能量的撞擊缺陷和損傷面積進(jìn)行快速成像。
聲明:
“基于矩陣分解的微波熱成像無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)