本發(fā)明公開了一種基于近場光學(xué)技術(shù)的單分子DNA無損檢測
芯片,包括氮化硅基板,該基板上表面設(shè)置有凹槽,凹槽從左到右依次由矩形DNA分子樣品池、漸窄坑道、窄坑道、漸寬坑道和矩形廢液池連接組成,在窄坑道之上搭載有氧化
石墨烯膜,在氧化石墨烯膜的左右兩端分別設(shè)置有第一和第二金納米粒子單層膜,電極A設(shè)置在矩形的DNA分子樣品池內(nèi),電極B設(shè)置在矩形的廢液池內(nèi),電極通過導(dǎo)線與電源連接。測序時(shí),單鏈DNA分子在電場力和氧化石墨烯的共同作用下以直鏈狀穿過窄坑道,當(dāng)經(jīng)過具有跨橋天窗結(jié)構(gòu)的石墨烯捕獲帶檢測區(qū)域時(shí),針尖增強(qiáng)拉曼光譜系統(tǒng)會捕捉到堿基拉曼信號,并傳到計(jì)算機(jī)。通過分析處理,實(shí)現(xiàn)單鏈DNA分子序列的實(shí)時(shí)檢測。
聲明:
“基于近場光學(xué)技術(shù)的單分子DNA無損檢測芯片” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)