本發(fā)明公開的一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭,包括一個(gè)以上的窄光譜光源、光源架、光電探測器、光電探測器保護(hù)筒,以及控制電路;其中光電探測器保護(hù)筒位于光源架的中心軸上且光電探測器保護(hù)筒的頂端與光源架固定連接,光電探測器保護(hù)筒的底端安裝有光電探測器,且光電探測器的感光面朝下;一個(gè)以上的窄光譜光源以光源架的中心軸為中心,均勻地朝下設(shè)置在光源架上;控制電路控制一個(gè)以上的窄光譜光源依次點(diǎn)亮。本發(fā)明對比現(xiàn)有的透射、漫反射檢測方式,這種漫透射式探頭省去了樣品池,不需要取樣、裝樣等操作,更加方便。
聲明:
“用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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