本發(fā)明提出一種基于光譜特性的西瓜成熟度快速無損檢測方法,包括以下步驟:步驟S1:獲取西瓜的可見/近紅外光譜;步驟S2:對步驟S1獲取的光譜提取峰值peak
1和峰值peak
2;步驟S3:計(jì)算RPP值和/或NDIP值:RPP=peak
1/peak
2;NDIP=(peak
1+peak
2)/(peak
1?peak
2);步驟S4:對多個西瓜樣本執(zhí)行步驟S1?步驟S3,對計(jì)算獲得的RPP值和/或NDIP值的數(shù)據(jù)集進(jìn)行訓(xùn)練,通過遺傳算法獲得RPP和/或NPID的邊界校正因子C
RPP和/或C
NDIP。該方法能夠有效分辨成熟的西瓜、減少未成熟西瓜的采摘,實(shí)現(xiàn)經(jīng)濟(jì)利益的最大化。
聲明:
“基于光譜特性的西瓜成熟度快速無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)