本發(fā)明公開(kāi)了一種基于能譜的3D打印無(wú)損檢測(cè)方法,其特征在于,將X射線能譜處理得到離散的若干個(gè)能量的光子,且光子的能量分別為I
a?I
n,光子穿過(guò)物體后剩下的能量分別為I
1?I
m,則
u
i為衰減系數(shù),l
i為X射線穿過(guò)物體的長(zhǎng)度。原有技術(shù)只能仿真單能X射線的正投數(shù)據(jù),與設(shè)備上實(shí)際采集的結(jié)果差距較大。本發(fā)明可以仿真多能X射線的正投數(shù)據(jù),得到的結(jié)果更接近設(shè)備采集的結(jié)果,為科研和研究算法提供有力的工具。
聲明:
“基于能譜的3D打印無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)