本發(fā)明公開了一種高光物體面型的非接觸無損測量系統(tǒng),它包括投影光源系統(tǒng)、偏振器、圖像傳感器、圖像采集卡和電腦;所述偏振器包括起偏器P1和檢偏器P2,其投影系統(tǒng)由投影光源系統(tǒng)和起偏器P1組成,其成像系統(tǒng)由圖像傳感器和檢偏器P2組成;所述圖像傳感器是接收變形光柵像的面陣探測器;所述投射光源為強(qiáng)度按正弦分布的面陣自然光,條紋的柵線垂直于參考平面。本發(fā)明還公開了一種高光物體面型的非接觸無損測量方法。本發(fā)明從傅里葉變換輪廓術(shù)中光場的偏振特性出發(fā),利用光學(xué)器件偏振器的濾光作用,結(jié)合現(xiàn)有傅里葉變換輪廓術(shù)和Phong光照模型,提出了一種高光物體面型的測量系統(tǒng)及測量方法,理論分析與應(yīng)用結(jié)果均證明了鏡面反射光將影響調(diào)制光場正確的高度分布。
聲明:
“高光物體面型的非接觸無損測量系統(tǒng)及測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)