本發(fā)明公開了一種鐵基體上鎳鍍層的無損測厚方法,該方法是采用設(shè)置若干已知鐵基體上鎳鍍層厚度的試樣,通過將具有激勵(lì)線圈和檢測線圈的渦流傳感器對試樣的鍍有鎳鍍層一面的表面進(jìn)行檢測,由激勵(lì)線圈發(fā)出激勵(lì)信號,檢測線圈獲得的渦流感應(yīng)信號經(jīng)處理后得到鐵基體上鎳鍍層已知厚度相對應(yīng)的渦流檢測數(shù)據(jù),從而建立一個(gè)鐵基體上鎳鍍層的厚度模型,在實(shí)測中,借助于該模型,利用同樣的方式可以獲得被測鐵基體上鎳鍍層的厚度。該方法為無損檢測,適用于對所有含鎳鍍層鐵基體的物件進(jìn)行鎳鍍層的厚度測量,具有檢測設(shè)備成本低、攜帶方便、操作簡單、直觀、檢測速度快、可現(xiàn)場即時(shí)獲取檢測結(jié)果、測定結(jié)果準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“鐵基體上鎳鍍層的無損測厚方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)