本發(fā)明提供一種基于高光譜的蘋果沖擊后損傷參數(shù)的無損預(yù)測方法,包括以下步驟,獲取樣品跌落損傷的平均壓強(qiáng)和接觸力;獲取樣品的高光譜圖像;對高光譜圖像進(jìn)行黑白校正,提取校正后高光譜圖像損傷區(qū)域的平均光譜;獲取平均光譜的特征波長;建立高光譜數(shù)據(jù)與損傷參數(shù)的預(yù)測模型。本發(fā)明的有益效果是實(shí)現(xiàn)果品力學(xué)參數(shù)的預(yù)測,量化果品的損傷程度,可以為評估果品的機(jī)械損傷提供重要依據(jù),相對于傳統(tǒng)的人工感官檢測及計(jì)算相關(guān)參數(shù)的方法,可以節(jié)省時間,提高效率,能實(shí)現(xiàn)快速、無損評估與預(yù)測,對果品市場的產(chǎn)業(yè)發(fā)展有重要意義。
聲明:
“基于高光譜的蘋果沖擊后損傷參數(shù)的無損預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)