本發(fā)明涉及一種珍珠珠層厚度的無(wú)損測(cè)量裝置及方法,該裝置由太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng)主機(jī)、太赫茲發(fā)射探頭、太赫茲接收探頭、珍珠測(cè)試平臺(tái)等組成,其中,上述主機(jī)用于實(shí)現(xiàn)太赫茲時(shí)域波形測(cè)量功能;太赫茲發(fā)射探頭用于產(chǎn)生脈沖太赫茲波,并聚焦入射至待測(cè)珍珠;太赫茲接收探頭用于采集被待測(cè)珍珠反射回來(lái)的太赫茲時(shí)域波形信號(hào),該波形信號(hào)中包含太赫茲波分別在珍珠外表面和內(nèi)部珠核界面反射形成的反射峰,通過(guò)測(cè)算兩個(gè)反射峰的時(shí)間間隔,即可測(cè)算得到珍珠層的厚度。本發(fā)明的顯著技術(shù)優(yōu)勢(shì)為:能夠在無(wú)損條件下測(cè)得珍珠層的厚度,精度可達(dá)到微米量級(jí),并且對(duì)操作人員無(wú)輻射傷害。本發(fā)明可應(yīng)用于珍珠的質(zhì)量評(píng)價(jià)。
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“珍珠珠層厚度的無(wú)損測(cè)量裝置及方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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