本發(fā)明涉及一種無損穩(wěn)態(tài)導(dǎo)熱率測(cè)量方法，包括：1、對(duì)于塊狀材料，利用加熱源通過點(diǎn)加熱的方式加熱樣品的表面，對(duì)于薄膜材料，利用區(qū)域加熱方式加熱樣品和某種已知導(dǎo)熱率的對(duì)比材料；2、當(dāng)樣品達(dá)到熱穩(wěn)態(tài)時(shí)，對(duì)于塊狀材料，通過測(cè)量樣品加熱表面任意一點(diǎn)的溫度變化或者任意兩點(diǎn)的溫度差來表征樣品表面的溫度場(chǎng)，對(duì)于薄膜材料，通過測(cè)量樣品和對(duì)比材料加熱區(qū)域中任意一點(diǎn)的溫度變化來表征；3、通過樣品的導(dǎo)熱率與樣品表面的溫度場(chǎng)的物理模型得到樣品的導(dǎo)熱率。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本方法具有如下優(yōu)點(diǎn)：1.實(shí)現(xiàn)樣品同側(cè)加熱和探測(cè)，可應(yīng)用于無損測(cè)量；2.簡(jiǎn)化樣品制備和測(cè)量裝置，縮短測(cè)量時(shí)長(zhǎng)；3.環(huán)境影響小，可在多種環(huán)境下測(cè)量導(dǎo)熱率。