一種用于電子科技的出廠產(chǎn)品檢測(cè)系統(tǒng),包括生產(chǎn)設(shè)備、信息采集中心、PLC控制電路、數(shù)據(jù)傳輸單元及計(jì)算機(jī),所述信息采集中心包括了檢測(cè)裝置、第二顯示器、再加工裝置、處理器、D/A轉(zhuǎn)換模塊、第一顯示器、標(biāo)簽機(jī)器及銷售終端,所述檢測(cè)裝置包括射線檢測(cè)系統(tǒng)、無損檢測(cè)系統(tǒng)、A/D轉(zhuǎn)換模塊、機(jī)械性能檢測(cè)、金相檢測(cè)系統(tǒng)、運(yùn)輸信息采集端、超聲波檢測(cè)系統(tǒng)、工件機(jī)械性能檢測(cè)涉筆及金相顯微鏡,所述無損檢測(cè)系統(tǒng)、機(jī)械性能檢測(cè)、金相檢測(cè)系統(tǒng)及運(yùn)輸信息采集端均與A/D轉(zhuǎn)換模塊相連;本發(fā)明可以全面的了解產(chǎn)品的損傷情況、機(jī)械性能情況、金相情況及運(yùn)輸信息,同時(shí)本發(fā)明也根據(jù)采集的信息提供建議存儲(chǔ)方式、運(yùn)輸方式,更加人性化。
聲明:
“用于電子科技的出廠產(chǎn)品檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)