本發(fā)明涉及用于微波
芯片全頻段信號質量檢測的裝置、系統(tǒng)及方法,屬于芯片測試技術領域,解決微波芯片的無損檢測問題,裝置包括測試裝具、微波輸入端口、微波輸出端口和控制單元;測試裝具用于無損安裝待測微波芯片;微波輸入端口外接微波信號源,用于為所述待測微波芯片提供基準信號源;微波輸出端口外接頻譜分析儀,用于將所述待測微波芯片產生的微波信號輸出到頻譜分析儀進行信號分析;控制單元包括至少一個控制輸入端口,用于接收控制指令,產生覆蓋微波芯片全頻段的頻率控制字,控制所述待測微波芯片的輸出相應頻率的微波信號。本發(fā)明制造成本低、結構簡單;測試過程簡單、便捷,適用于批量測試。
聲明:
“用于微波芯片全頻段信號質量檢測的裝置、系統(tǒng)及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)