本發(fā)明公開(kāi)了一種電弧放電光譜檢測(cè)裝置、方法及存儲(chǔ)介質(zhì),該裝置包括:信號(hào)探測(cè)模塊和信號(hào)處理模塊,信號(hào)探測(cè)模塊獲取被測(cè)樣品未工作前進(jìn)行電弧放電時(shí)的第一光信號(hào)和工作若干次后進(jìn)行電弧放電時(shí)的第二光信號(hào),將第一光信號(hào)轉(zhuǎn)換為第一電信號(hào)、第二光信號(hào)轉(zhuǎn)換為第二電信號(hào)輸出;信號(hào)處理模塊根據(jù)第一電信號(hào)和第二電信號(hào)的差值確定被測(cè)樣品的健康狀態(tài)。通過(guò)實(shí)施本發(fā)明,獲取被測(cè)樣品進(jìn)行電弧放電時(shí)產(chǎn)生的光信號(hào)進(jìn)行探測(cè),得到電信號(hào),經(jīng)過(guò)對(duì)未工作樣品的電信號(hào)和工作若干次樣品的電信號(hào)進(jìn)行分析,確定被測(cè)樣品中各組分的含量變化情況,從而確定待測(cè)樣品的健康狀態(tài)。即采用無(wú)損檢測(cè)的方式使得在經(jīng)過(guò)檢測(cè)之后,被測(cè)樣品能夠繼續(xù)使用,從而降低成本。
聲明:
“電弧放電光譜檢測(cè)裝置、方法及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)