本申請公開了一種
芯片測試分析方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì),從目標(biāo)芯片的記憶模塊中獲取所述目標(biāo)芯片的測試信息,根據(jù)所述測試信息對所述目標(biāo)芯片的測試過程進(jìn)行分析。本方案中,由于該測試信息是永久保存于芯片內(nèi)部,不易失效,方便了對芯片測試過程的追溯,從而節(jié)省了巨大的人力成本和時間成本,滿足了客戶要求。
聲明:
“芯片測試分析方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)