本發(fā)明公開(kāi)了一種多層聚合物管狀制品層厚無(wú)損測(cè)量方法,包括(1)求取待檢測(cè)層厚的一層或多層材料分別對(duì)應(yīng)的聲阻抗;(2)利用聲阻抗求取超聲波在對(duì)應(yīng)層材料中傳播的聲速;(3)垂直向制品發(fā)射超聲波,記錄超聲檢測(cè)探頭分別接收到待檢測(cè)層厚的某一層材料上表面和下表面反射回波的時(shí)間間隔;(4)利用超聲波在待檢測(cè)層厚的某一層中的聲速和該層對(duì)應(yīng)的所述時(shí)間間隔,得到該層的厚度,進(jìn)而得出所有待檢測(cè)層厚的一層或多層的層厚。本發(fā)明的多層聚合物管狀制品層厚無(wú)損測(cè)量方法,通過(guò)測(cè)量聲阻抗,求得超聲波的傳播聲速,進(jìn)而結(jié)合超聲波測(cè)量的時(shí)間間隔,求得對(duì)應(yīng)層的層厚,整個(gè)過(guò)程不需要對(duì)管狀制品進(jìn)行破壞,避免了浪費(fèi);且測(cè)量精度高,實(shí)用性強(qiáng)。
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“多層聚合物管狀制品層厚無(wú)損測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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