本發(fā)明提供了一種焊點(diǎn)位移實(shí)時(shí)無損監(jiān)測(cè)方法,涉及封裝技術(shù)領(lǐng)域,包括:選定待測(cè)焊點(diǎn);在待測(cè)焊點(diǎn)第一側(cè)銅沉積層和第二側(cè)銅沉積層中選定四個(gè)待測(cè)點(diǎn);從四對(duì)待測(cè)點(diǎn)中任意選定兩對(duì)作為電流施加點(diǎn),并將剩下的兩對(duì)作為壓差測(cè)量點(diǎn);在兩對(duì)電流施加點(diǎn)中任意選擇不處于同一側(cè)銅沉積層中的兩點(diǎn)之間施加電流,并測(cè)量兩對(duì)壓差測(cè)量點(diǎn)中不處于同一側(cè)銅沉積層中的任意兩點(diǎn)之間的電壓差;在步驟S4中兩對(duì)電流施加點(diǎn)中未施加電流的兩點(diǎn)之間施加電流,并測(cè)量兩對(duì)壓差測(cè)量點(diǎn)中不處于同一側(cè)銅沉積層中的任意兩點(diǎn)之間的電壓差;基于測(cè)量值計(jì)算得到待測(cè)焊點(diǎn)三個(gè)方向上的位移。其采用精度電壓測(cè)量裝置,多次測(cè)量待測(cè)焊點(diǎn)各個(gè)角度的電壓差實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)焊點(diǎn)監(jiān)測(cè)的目的。
聲明:
“焊點(diǎn)位移實(shí)時(shí)無損監(jiān)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)