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GPGPU芯片無損Extest Mode測試方法

829   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 08:58:00
本發(fā)明提供一種GPGPU芯片無損Extest Mode測試方法,基于GPGPU芯片的設(shè)計(jì)特點(diǎn),根據(jù)頂層芯片的邏輯連接關(guān)系,把GPGPU芯片的設(shè)計(jì)分為計(jì)算邏輯模塊和余下的SOC模塊,從而分成兩個Extest Mode分組:一組包含計(jì)算邏輯模塊以及與之相連的SOC模塊,另外一組包含所有的SOC模塊。在此基礎(chǔ)上,每組均控制所有的掃描鏈輸入信號,根據(jù)GPGPU芯片提供的所有輸入輸出管腳數(shù)量,再次分組直到觀測完所有的掃描鏈輸出信號,對運(yùn)算內(nèi)存的需求大大降低,同時沒有損失任何測試覆蓋率。
聲明:
“GPGPU芯片無損Extest Mode測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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