本發(fā)明涉及一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法,屬于冶金
分析檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。它包括以下三步:鑲嵌、磨制、分析,通過對(duì)小截面金屬試樣進(jìn)行鑲嵌,鑲嵌后的試樣其截面變大,厚度變高,解決了小截面試樣磨樣不方便及分析時(shí)火花臺(tái)漏氣等問題。本發(fā)明無需使用小夾具,具有操作簡(jiǎn)單、快速、精準(zhǔn)的優(yōu)點(diǎn),適宜在鋼鐵生產(chǎn)檢驗(yàn)中推廣。
聲明:
“直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)