本發(fā)明公開了一種頁巖儲(chǔ)層裂縫識(shí)別方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),包括:通過成像測井獲得頁巖層段的探測圖像,對(duì)探測圖像進(jìn)行預(yù)處理,得到預(yù)處理圖像;對(duì)預(yù)處理圖像進(jìn)行裂縫特征識(shí)別,得到預(yù)處理圖像中的裂縫特征并進(jìn)行標(biāo)記;通過聲波測井獲得頁巖儲(chǔ)層的聲波曲線,以及,通過電阻率測井獲得頁巖儲(chǔ)層的電阻率曲線;根據(jù)聲波曲線和電阻率曲線,對(duì)標(biāo)記的裂縫特征進(jìn)行識(shí)別整合,形成初始裂縫圖像;采集頁巖儲(chǔ)層當(dāng)前的應(yīng)力數(shù)據(jù),根據(jù)應(yīng)力數(shù)據(jù)確定頁巖儲(chǔ)層的地質(zhì)運(yùn)動(dòng)合力矢量;根據(jù)地質(zhì)運(yùn)動(dòng)合力矢量對(duì)初始裂縫圖像進(jìn)行修正,得到最終裂縫圖像。本發(fā)明解決現(xiàn)有裂縫識(shí)別技術(shù)中對(duì)于頁巖儲(chǔ)層裂縫識(shí)別精度不夠的技術(shù)問題,有效減少裂縫解譯的多解性。
聲明:
“頁巖儲(chǔ)層裂縫識(shí)別方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)