本發(fā)明公開了一種銣礦石中主次成分的X射線熒光光譜分析方法,具體流程如下:篩選含銣巖礦及土壤、水系沉積物的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)曲線,選擇混合熔劑熔融制備標(biāo)準(zhǔn)樣品,確定儀器分析條件、校正基體及譜線重疊效應(yīng),建立標(biāo)準(zhǔn)曲線,以定值樣品驗(yàn)證方法準(zhǔn)確度及重現(xiàn)性,測定銣礦石中硅、鋁、鈣、鐵、鈉、鉀、鈦、銣;本發(fā)明選擇熔融制樣作為銣礦石X射線熒光光譜分析前處理手段,相比粉末壓片可消除粒度效應(yīng)及一定程度上的基體效應(yīng),使用X射線熒光光譜分析銣礦石主次成分較之傳統(tǒng)化學(xué)、儀器分析方法省時省力;本發(fā)明具有檢出限低、線性范圍寬、分析速度快等優(yōu)點(diǎn),單個礦石樣品平均處理時間不超過20?min。
聲明:
“銣礦石中主次成分的X射線熒光光譜分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)