本發(fā)明涉及一種假冒翻新塑封元器件的識別方法,涉及電子元器件的篩選檢測技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明采用激光束照射元器件的表面,使其表面的涂層發(fā)生瞬間剝離,高速有效清除元器件表面的涂層,顯現(xiàn)出元器件原有的標(biāo)記。這種非機械、非化學(xué)方法去除涂層的效率高,精確度易控制,易于選區(qū)定位,且適用于不同封裝器件的特點,不受器件封裝限制,克服了機械打磨涂層不精確、化學(xué)方法去涂層不環(huán)保、x射線檢查、聲學(xué)掃描顯微鏡檢查、開封后不具備內(nèi)部目檢條件的問題。采用本發(fā)明可降低檢測成本、提高了識別效率,不會造成環(huán)境污染。
聲明:
“假冒翻新塑封元器件的識別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)