本發(fā)明公開了一種鐳射光柱紙張表面光柱性能檢測(cè)方法,通過在鐳射光柱紙條盒煙標(biāo)條碼的位置,制作兩個(gè)超長(zhǎng)條碼,并從印刷叼口一直貫穿到版尾;采用兩個(gè)色組印刷條碼白,采用一個(gè)色組印刷條碼黑;將距叼口處紙邊50mm的位置規(guī)定為起始點(diǎn),從此位置往版尾方向,每隔49mm作為一個(gè)光柱循環(huán);沿條碼方向每間隔1毫米,用臺(tái)式條碼
檢測(cè)儀檢測(cè)一次條碼,并記錄條碼缺陷度數(shù)值,在同一張紙上連續(xù)選取多個(gè)光柱循環(huán);連續(xù)測(cè)量若干張鐳射光柱紙。本發(fā)明的有益效果是:通過檢測(cè)確定鐳射光柱紙?zhí)囟▍^(qū)域條碼缺陷度異常的原因,并以此避開高缺陷度紙張的位置,解決鐳射光柱紙張?zhí)囟ㄎ恢玫墓庵鶎?duì)條碼缺陷度影響的問題。
聲明:
“鐳射光柱紙張表面光柱性能檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)