本發(fā)明提供了一種阻尼性能的微觀測(cè)試方法,該方法具體步驟包括:A、將待測(cè)材料加工成微納柱體;B、將微納柱體進(jìn)行單軸壓縮實(shí)驗(yàn),得到應(yīng)力?應(yīng)變曲線;C、以應(yīng)力?應(yīng)變曲線上彈性變形階段的應(yīng)力作為最大載荷,對(duì)微納柱體進(jìn)行等應(yīng)力幅度的周期性單向壓縮實(shí)驗(yàn),得到工程應(yīng)力?時(shí)間曲線和工程應(yīng)變?時(shí)間曲線;D、通過(guò)統(tǒng)計(jì)步驟C中工程應(yīng)力?時(shí)間曲線和工程應(yīng)變?時(shí)間曲線中應(yīng)變波滯后于應(yīng)力波的時(shí)間,然后計(jì)算得到待測(cè)材料的阻尼系數(shù)。本發(fā)明提供了一種可以在微米尺度對(duì)材料阻尼性能進(jìn)行測(cè)試的方法,能夠準(zhǔn)確測(cè)量材料的阻尼性能,檢測(cè)分析精度高,適用性廣泛。
聲明:
“一種阻尼性能的微觀測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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