本發(fā)明公開了一種集成電路測試設(shè)備,屬于集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域,一種集成電路測試設(shè)備,包括測試主機(jī),測試主機(jī)通過PCI總線與計(jì)算機(jī)連接,測試主機(jī)通過繼電器矩陣與集成電路連接,測試主機(jī)上設(shè)有多個測試分機(jī),本發(fā)明提供了一種集便攜式測試和臺式測試技術(shù)于一體的并具有高精準(zhǔn)度的集成電路測試設(shè)備,本發(fā)明以測試分機(jī)作為主要測試設(shè)備,可隨時進(jìn)行便攜式測試,測試主機(jī)作為多個測試分機(jī)的連接輔助載體,可使多個測試分機(jī)同時對同一集成電路進(jìn)行同步測試,集中分析多個測試結(jié)果以減小測試誤差,并且,通過測試主機(jī)對多個測試分機(jī)的信號數(shù)據(jù)進(jìn)行采集及統(tǒng)一校準(zhǔn),分析測試分機(jī)的測試性能,檢測出并提高測試分機(jī)的測試精確度。
聲明:
“一種集成電路測試設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)