本發(fā)明涉及一種殼聚糖-
石墨烯量子點(diǎn)納米
復(fù)合材料的制備以及其修飾電極與鉍膜結(jié)合用
電化學(xué)法同時(shí)檢測(cè)Zn2+、Cd2+和Pb2+,包括以下步驟:制備石墨烯量子點(diǎn)、制備殼聚糖-石墨烯量子點(diǎn)納米復(fù)合材料、制備殼聚糖-石墨烯量子點(diǎn)納米復(fù)合材料修飾電極、結(jié)合鉍膜用電化學(xué)法同時(shí)檢測(cè)Zn2+、Cd2+和Pb2+。本發(fā)明的有益效果是:殼聚糖-石墨烯量子點(diǎn)納米復(fù)合材料的制備方法簡便易行,制備過程環(huán)保無污染,且殼聚糖-石墨烯量子點(diǎn)/鉍膜修飾電極對(duì)Zn2+、Cd2+和Pb2+可以實(shí)現(xiàn)同時(shí)且高靈敏檢測(cè)。
聲明:
“殼聚糖-石墨烯量子點(diǎn)納米復(fù)合材料的制備及其修飾電極電化學(xué)法檢測(cè)重金屬離子” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)