本發(fā)明公開了一種化學(xué)發(fā)光法檢測NO的裝置及其檢測方法,所述裝置包括產(chǎn)氣系統(tǒng)和氮氧化物化學(xué)發(fā)光分析儀,還包括用于放置雜質(zhì)吸附物的密封組件、質(zhì)量流量控制支路和待檢測氣源支路,所述產(chǎn)氣系統(tǒng)分別與所述質(zhì)量流量控制支路和待檢測氣源支路連接,所述密封組件的一端分別與所述質(zhì)量流量控制支路和待檢測氣源支路連接,所述密封組件的另一端與所述氮氧化物化學(xué)發(fā)光分析儀連接;所述方法通過該裝置檢測;本發(fā)明的化學(xué)發(fā)光法檢測NO的方法,在特定條件下,通過雜質(zhì)吸附物處理,可以有效地消除雜質(zhì)的干擾,從而NO的檢測更為準(zhǔn)確。
聲明:
“化學(xué)發(fā)光法測定NO的裝置及其檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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