本發(fā)明公開了一種用于
電化學(xué)發(fā)光檢測(cè)的磁珠改性標(biāo)記方法,屬于電化學(xué)檢測(cè)材料技術(shù)領(lǐng)域。所述的磁珠改性標(biāo)記方法,特征步驟為:1)將羥基被保護(hù)基PG保護(hù)的羥基酸活化酯和帶有反應(yīng)基團(tuán)X的酸的活化酯,與氨基磁珠表面的氨基通過成酰胺鍵反應(yīng),將氨基磁珠表面的氨基完全反應(yīng)掉形成改性氨基磁珠(I);2)將改性氨基磁珠(I)進(jìn)行脫羥基保護(hù)基PG游離出羥基,得到表面是部分羥基和部分反應(yīng)基團(tuán)X的磁珠(II);3)將被反應(yīng)基團(tuán)Y修飾的蛋白質(zhì)分子鏈霉親和素SA與磁珠表面的X基團(tuán)進(jìn)行標(biāo)記反應(yīng)得到用于電化學(xué)發(fā)光檢測(cè)的磁珠;所述反應(yīng)基團(tuán)Y與反應(yīng)基團(tuán)X能夠形成化學(xué)鍵。本發(fā)明標(biāo)記后的磁珠可以明顯改善通電后磁珠清洗后的殘留。
聲明:
“用于電化學(xué)發(fā)光檢測(cè)的磁珠改性標(biāo)記方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)