本發(fā)明涉及一種適用于檢測
電化學裝置中的缺陷的缺陷檢測方法,包括:從所述電化學裝置所接收到的至少一個變量(S)中獲得至少一個特征數(shù)值(Vali)(103),以及從所述獲得的數(shù)值中確定所述電化學裝置的至少一個缺陷(Di)。該方法包括執(zhí)行小波變換,以便從所接收到的變量(S)中獲得特征數(shù)值(Vali)。本發(fā)明還涉及實施該方法的裝置以及對應的計算機程序。
聲明:
“檢測電化學裝置缺陷的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)