本發(fā)明公開了一種計算材料高通量
電化學(xué)磨蝕數(shù)據(jù)處理方法,包括:輸入電化學(xué)磨蝕試驗的基本參數(shù),所述基本參數(shù)包括測試材料基本參數(shù)及測試基本參數(shù);輸入電化學(xué)磨蝕試驗的試驗結(jié)果相關(guān)數(shù)據(jù),所述試驗結(jié)果相關(guān)數(shù)據(jù)包括腐蝕試驗結(jié)果相關(guān)數(shù)據(jù)和磨損試驗結(jié)果相關(guān)數(shù)據(jù);對所述電化學(xué)磨蝕試驗的基本參數(shù)及電化學(xué)磨蝕試驗的試驗結(jié)果相關(guān)數(shù)據(jù)進行處理,從而獲得電化學(xué)磨蝕試驗的計算結(jié)果。利用本發(fā)明能準確、高效、簡單、便捷地挖掘和解析材料電化學(xué)磨蝕數(shù)據(jù),從而利于更有效地量化評價材料在磨損環(huán)境下的性能,為后續(xù)的數(shù)據(jù)融合提供可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。
聲明:
“計算材料高通量電化學(xué)磨蝕數(shù)據(jù)處理方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)