本發(fā)明涉及用于處理具有與溫度有關(guān)的歐姆阻抗的測量元件的、尤其是能斯特探測器的所測量的阻抗R(t)的方法,其中在時刻tx測量測量元件的歐姆阻抗R(tx),并且在所測量的歐姆阻抗R(tx)的測量時刻tx,從圍繞測量元件的氣體的至少一個物理和/或化學(xué)參數(shù)中確定根據(jù)修正因數(shù)Kλ的修正因數(shù)Kλ(tx),這些修正因數(shù)Kλ對于圍繞測量元件的氣體的至少一個物理和/或化學(xué)參數(shù)的不同的值被預(yù)先確定,其中根據(jù)方程Rkorr(tx)=R(tx)·Kλ(tx)確定修正的阻抗值Rkorr(tx)。在此,與測量元件的至少一個物理和/或化學(xué)參數(shù)有關(guān)地確定測量元件的所測量的阻抗Rkomp(tx)的另外的修正。
聲明:
“處理具有與溫度有關(guān)的歐姆阻抗的測量元件的所測量歐姆阻抗的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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