本發(fā)明公開了一種缺陷的無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng),通過(guò)脈沖發(fā)生器輸出的脈沖波為套設(shè)在鐵芯上的檢測(cè)線圈供電,鐵芯周圍會(huì)產(chǎn)生與脈沖波頻率大小對(duì)應(yīng)的交變磁場(chǎng),處于鐵芯下方的試件表面和近表面也會(huì)因渦流而產(chǎn)生熱量。由于試件缺陷處與無(wú)缺陷處對(duì)熱量的傳導(dǎo)能力不同,所以,熱量在試件缺陷處和無(wú)缺陷處的分布也不同,利用計(jì)算機(jī)對(duì)熱成像攝像機(jī)采集的熱分布圖像進(jìn)行分析可以得到試件的缺陷情況。而且,熱量分布情況與缺陷輪廓之間的聯(lián)系較為直觀。因此,應(yīng)用本發(fā)明提供的無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)能夠得到更為清晰的缺陷輪廓以使檢測(cè)結(jié)果更為直觀,從而能夠進(jìn)一步提升判斷缺陷種類及大小的便捷性和準(zhǔn)確性。此外,本發(fā)明還公開了一種缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法,效果如上。
聲明:
“缺陷的無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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