本發(fā)明公開了一種旋轉(zhuǎn)型低頻漏磁無損探傷檢測(cè)系統(tǒng),由霍爾元件陣列、U型磁芯、激勵(lì)線圈、信號(hào)處理器、電源模塊、單片機(jī)、探測(cè)外殼、車輪、輪距調(diào)整機(jī)構(gòu)、上位機(jī)組成。單片機(jī)輸出低頻交變信號(hào)給激勵(lì)線圈,磁化U型磁芯,使其與待測(cè)構(gòu)件形成磁回路,形成一個(gè)局部的磁真空泄露環(huán)境,讓被檢測(cè)導(dǎo)磁構(gòu)件體內(nèi)磁通在缺陷處泄漏到所創(chuàng)造的磁真空區(qū)域,形成最大化漏磁場(chǎng)并被置于該區(qū)域的霍爾元件陣列所感應(yīng),產(chǎn)生檢測(cè)電信號(hào)經(jīng)處理后,送入上位機(jī)處理,反應(yīng)出損傷。該檢測(cè)裝置外部采用小車構(gòu)造,且車輪距可調(diào),可以實(shí)現(xiàn)在繞管道運(yùn)動(dòng),實(shí)現(xiàn)旋轉(zhuǎn)型漏磁檢測(cè)。該發(fā)明具有可探測(cè)距離遠(yuǎn)、高靈敏度、可旋轉(zhuǎn)檢測(cè),是對(duì)傳統(tǒng)的基于漏磁檢測(cè)原理的一次革新。
聲明:
“旋轉(zhuǎn)型低頻漏磁無損探傷檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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