本發(fā)明涉及一種絕緣紙板內(nèi)部放電痕跡的無損檢測方法及系統(tǒng),屬于掃描檢測領域。本申請以太赫茲脈沖波在介質(zhì)中的傳播特性為理論基礎,搭建了反射式太赫茲時域光譜測量系統(tǒng)(THz?TDS),利用太赫茲時、頻域光譜技術(shù)進行缺陷類型的判定,缺陷大小的定量,并結(jié)合快速傅里葉(FFT)變換對缺陷和正常位置的特征頻率差異進行分析,研究對缺陷進行快速成像的方法。
聲明:
“絕緣紙板內(nèi)部放電痕跡的無損檢測方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)