本發(fā)明涉及一種用于容器內壁粘接質量檢測的基于成像光纖束的剪切散斑技術。該方法利用一根保偏導光光纖和一根成像光纖束以及現(xiàn)有的邁克爾遜干涉儀,即實現(xiàn)了對容器內部粘接結構的粘接質量檢測,解決了傳統(tǒng)剪切散斑技術無法對該類型結構進行檢測的問題。同時該技術突破了傳統(tǒng)邁克爾遜光路對檢測面積的限制,提高了剪切散斑技術的單次有效檢測面積,使該技術即使在較短的工作距離下,也可進行快速大面積無損檢測。
聲明:
“基于剪切散斑干涉的容器內壁粘接質量無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)