公開一種用于自動檢驗緊固件附近或下面的缺陷的無損方法。該方法包括:獲取稱作所獲取圖像的包含一個或多個緊固件的圖像,然后從所獲取圖像中獲取或選擇稱作參考圖像的已知良好材料的緊固件的第二圖像。使用參考圖像來自動定位所獲取圖像中的緊固件的所有實例。去除所獲取圖像中與緊固件的材料相關(guān)的信息,然后可檢驗結(jié)果圖像以尋找母材中位于所述緊固件處或附近的缺陷。由于從所獲取圖像去除緊固件的圖像,所以更易于識別任何瑕疵。因此,可以更為可靠并且迅速地識別瑕疵。
聲明:
“用于自動緊固件檢驗的無損測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)