本實(shí)用新型公開了一種LED的光學(xué)無損測試裝置,其包括操作臺和屏蔽上罩,所述操作臺與所述屏蔽上罩的接合端設(shè)有屏蔽材料層,當(dāng)所述操作臺與所述屏蔽上罩閉合時(shí)形成全封閉的空腔,于所述空腔內(nèi)至少設(shè)有一個測試腔,所述測試腔內(nèi)設(shè)有產(chǎn)品治具,對應(yīng)所述產(chǎn)品治具設(shè)置有用于獲取產(chǎn)品的實(shí)時(shí)圖像參數(shù)信息的攝像頭和用于所述測試腔自檢的喇叭,所述攝像頭和所述喇叭分別電性連接于數(shù)據(jù)分析裝置。本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)為全封閉式,通過設(shè)有用于獲取實(shí)時(shí)圖像參數(shù)信息的攝像頭,可精確地
分析檢測出LED的發(fā)光強(qiáng)度和色溫,保證測試數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)性和可靠性,且其接合端設(shè)置有屏蔽隔離層,有效地提高測試的穩(wěn)定性和精確度,避免外界干擾因素對測試造成影響。
聲明:
“LED的光學(xué)無損測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)