本發(fā)明公開了一種基于低通負(fù)群時(shí)延電路的信號(hào)預(yù)測(cè)方法,首先基于電路理論、微波網(wǎng)絡(luò)理論實(shí)現(xiàn)低通有源負(fù)群時(shí)延電路群時(shí)延解析公式和電路綜合公式;然后基于時(shí)域電路仿真和頻域S參數(shù)仿真優(yōu)化有源負(fù)群時(shí)延電路參數(shù),設(shè)計(jì)、加工并在時(shí)域和頻域進(jìn)行性能測(cè)試,得到負(fù)群時(shí)延大、帶寬理想、無(wú)損耗的PCB板級(jí)負(fù)群時(shí)延電路;最后通過(guò)負(fù)群時(shí)延電路對(duì)平滑信號(hào)進(jìn)行實(shí)時(shí)預(yù)測(cè),實(shí)現(xiàn)了任意信號(hào)實(shí)時(shí)秒級(jí)的預(yù)測(cè),并且輸入輸出信號(hào)具有良好相關(guān)性。
聲明:
“基于低通負(fù)群時(shí)延電路的信號(hào)預(yù)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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