本發(fā)明公開了一種激光Bar條
芯片自動檢測裝置,包括機座,機座上設置有放置座,放置座上設置Bar條盒,機座上設置有Bar條檢測裝置;機座上水平滑動安裝有由檢測工位切換動力裝置驅(qū)動的檢測平臺;機座上設置有Bar條轉(zhuǎn)移機構,機座上設置有芯片位置檢測裝置、供電裝置,機座上位于芯片檢測工位的一側(cè)還設置有對芯片發(fā)光性能進行檢測的發(fā)光性能檢測裝置。該自動檢測裝置能夠?qū)ar條盒內(nèi)的Bar條自動送至檢測平臺上,然后再對Bar條上的芯片進行位置檢測,從而方便每個芯片準確供電,方便對Bar條上所有芯片的發(fā)光性能進行全檢。
聲明:
“一種激光Bar條芯片自動檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)