本申請(qǐng)涉及化學(xué)電離質(zhì)譜技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種測(cè)量化學(xué)電離反應(yīng)時(shí)間的方法、系統(tǒng)、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì),通過(guò)在化學(xué)電離源上施加脈沖電壓信號(hào),產(chǎn)生主離子,獲取所述主離子的質(zhì)譜TTL反饋信號(hào),再獲取信號(hào)隨時(shí)間變化的序列圖,所述信號(hào)包括所述脈沖電壓信號(hào)及所述質(zhì)譜TTL反饋信號(hào),最后,根據(jù)所述序列圖中的所述質(zhì)譜TTL反饋信號(hào)的半高處對(duì)應(yīng)的時(shí)間與所述脈沖電壓信號(hào)起始對(duì)應(yīng)的時(shí)間,計(jì)算得到化學(xué)電離反應(yīng)時(shí)間。本發(fā)明根據(jù)脈沖電壓信號(hào)與質(zhì)譜TTL反饋信號(hào)的譜圖之間的特征確定化學(xué)電離反應(yīng)時(shí)間,可以提高化學(xué)電離反應(yīng)時(shí)間測(cè)量的準(zhǔn)確性,且方法簡(jiǎn)單易行。
聲明:
“測(cè)量化學(xué)電離反應(yīng)時(shí)間的方法、系統(tǒng)、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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