本發(fā)明公開了一種無損監(jiān)測晶界弛豫強(qiáng)化納米金屬的方法及工藝參數(shù)的確定方法,監(jiān)測方法包括以下步驟:(1)采用X射線衍射儀,獲取納米金屬晶界弛豫過程中的至少兩個(gè)衍射晶面的衍射圖譜;(2)計(jì)算納米金屬晶界弛豫過程中各衍射晶面的晶面間距;(3)計(jì)算納米金屬晶界弛豫過程中各衍射晶面的晶格應(yīng)變。本發(fā)明首次提出利用X射線衍射技術(shù)原位監(jiān)測晶界弛豫(低溫?zé)崽幚?過程中晶面間距的變化,以平均晶格應(yīng)變作為準(zhǔn)確反映晶界弛豫程度的微觀結(jié)構(gòu)特征指標(biāo),有效解決了熱處理工藝參數(shù)難以確定及晶界弛豫強(qiáng)化效果難以保證的問題,為利用高效低能的熱處理設(shè)計(jì)制備高性能納米金屬材料提供工藝指導(dǎo)和質(zhì)量保證。
聲明:
“無損監(jiān)測晶界弛豫強(qiáng)化納米金屬的方法及工藝參數(shù)的確定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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