本發(fā)明實(shí)施例公開了一種表面缺陷視覺檢測(cè)方法,包括對(duì)輸入的原始圖像進(jìn)行增強(qiáng)圖像對(duì)比度的圖像預(yù)處理,獲取預(yù)處理結(jié)果圖像并進(jìn)行特征提取,獲取每一像素特征向量;根據(jù)每一像素特征向量計(jì)算超像素塊特征向量,并將超像素塊特征向量組合構(gòu)成特征矩陣;超像素塊根據(jù)預(yù)處理結(jié)果圖像進(jìn)行超像素分割來(lái)獲取;獲取缺陷圖像的先驗(yàn)信息并融合到低秩表示模型中,將特征矩陣分解為低秩矩陣和稀疏矩陣之和;根據(jù)超像素元素索引信息將稀疏矩陣轉(zhuǎn)化為顯著性圖,對(duì)顯著性圖進(jìn)行后處理,獲取表面缺陷檢測(cè)圖,以此避免現(xiàn)有無(wú)損檢測(cè)方式存在檢測(cè)速度慢或是檢測(cè)結(jié)果易受干擾的問(wèn)題,加快無(wú)損檢測(cè)的速度、提高無(wú)損檢測(cè)的智能程度、加強(qiáng)無(wú)損檢測(cè)的可回溯性。
聲明:
“表面缺陷視覺檢測(cè)方法、裝置和電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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