本發(fā)明公開了屬于激光散斑干涉測量領域的一種外差式時間序列散斑干涉測量物體變形的方法。該方法結合了時間序列散斑干涉測量和外差式干涉測量方法,直接給出時變場的相位函數(shù),并引入頻率差,確保形變測量精度。本發(fā)明簡化了物體變形檢測系統(tǒng),并通過使用鈮酸鋰偏振控制器更好地適應了高速CCD的存儲速度。
聲明:
“外差式時間序列散斑干涉測量物體變形的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)