位置:中冶有色 >
> 失效分析技術(shù)
本發(fā)明公開了一種少失效數(shù)據(jù)的變壓器絕緣可靠性分析方法。通過對(duì)油紙絕緣進(jìn)行不同溫度下的熱老化,得到不同老化程度的油紙絕緣樣品;間隔一段時(shí)間測(cè)量每個(gè)樣品的聚合度數(shù)據(jù),得到絕緣樣品聚合度變化情況;設(shè)置截尾時(shí)刻,并求解可靠性參數(shù)的點(diǎn)估計(jì);隨后設(shè)定置信系數(shù),得到該置信水平下的參數(shù)置信下限;最后建立方程計(jì)算變壓器絕緣可靠性。該方法能判斷少失效數(shù)據(jù)的變壓器絕緣可靠性。
本發(fā)明公開了一種基于數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的失效模式及影響分析方法,首先采集失效模式以及其對(duì)應(yīng)風(fēng)險(xiǎn)參數(shù)相關(guān)的歷史數(shù)據(jù),將收集到的風(fēng)險(xiǎn)數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理用于訓(xùn)練數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模型,并選擇精度最高的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模型作為預(yù)測(cè)模型,緊接著利用訓(xùn)練好的模型對(duì)失效模式的發(fā)生概率進(jìn)行預(yù)測(cè),最后利用直覺模糊方法對(duì)失效模式進(jìn)行評(píng)估,并采用距離算子對(duì)失效模式風(fēng)險(xiǎn)進(jìn)行測(cè)度。本發(fā)明的方法能夠充分利用產(chǎn)品生命周期產(chǎn)生的大量數(shù)據(jù),從中挖掘有用風(fēng)險(xiǎn)信息,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品失效模式數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)評(píng)估,節(jié)約了不確定性設(shè)計(jì)的時(shí)間成本和經(jīng)濟(jì)成本,避免了人力、物力的浪費(fèi),提高產(chǎn)品的可靠性,以支持維護(hù)企業(yè)的規(guī)劃和操作,最終實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品失效模式的識(shí)別、預(yù)測(cè)以及風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估。
本發(fā)明提出一種航電通信模塊失效分析報(bào)表自動(dòng)引導(dǎo)填報(bào)工具,可以針對(duì)航電通信模塊的物理組成與失效模式特點(diǎn),有效地提高工作效率,實(shí)現(xiàn)知識(shí)引導(dǎo)填報(bào)。本發(fā)明通過下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):在執(zhí)行報(bào)表填報(bào)過程中,表格自動(dòng)填報(bào)模塊依托運(yùn)行環(huán)境平臺(tái),基于關(guān)聯(lián)關(guān)系構(gòu)建引導(dǎo)填報(bào)、自動(dòng)填報(bào)和導(dǎo)入填報(bào)三種方式;失效模式引導(dǎo)填報(bào)模塊自動(dòng)對(duì)潛在失效模式及各階段進(jìn)行監(jiān)控及跟蹤,根據(jù)流程搜索,按照航電通信模塊失效與監(jiān)測(cè)模式專家知識(shí)庫規(guī)則,構(gòu)建專家知識(shí)庫;失效模式引導(dǎo)填報(bào)模塊將航電通信模塊失效分析報(bào)表輸出至航電通信失效分析報(bào)表模塊,表格自動(dòng)評(píng)審模塊在報(bào)表填報(bào)過程中監(jiān)控報(bào)表的填報(bào)行為,執(zhí)行基于專家知識(shí)與行為監(jiān)控的失效模式引導(dǎo)填報(bào)功能。
本發(fā)明涉及干氣密封故障診斷及失效分析方法、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì),方法包括,監(jiān)測(cè)干氣密封裝置一級(jí)密封泄漏氣的壓力和流量的變化趨勢(shì),并根據(jù)該趨勢(shì)進(jìn)一步分析輸出可能存在的故障或失效原因。與現(xiàn)有技術(shù)相比,對(duì)于干氣密封故障診斷及失效分析不再僅僅局限于密封端面的運(yùn)行狀態(tài)的考慮,解決了現(xiàn)有技術(shù)故障失效診斷分析單一、滯后性大的問題,能夠更有效地幫助實(shí)現(xiàn)設(shè)備的管理和維護(hù),提高設(shè)備的可靠。
本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N電學(xué)失效分析方法,包括:獲取晶圓的各個(gè)失效晶粒的失效日志;根據(jù)失效晶粒的失效日志中高頻測(cè)試結(jié)果和低頻測(cè)試結(jié)果,確定各個(gè)高頻主導(dǎo)失效晶粒和各個(gè)低頻主導(dǎo)失效晶粒;獲取當(dāng)前高頻主導(dǎo)失效權(quán)重值;根據(jù)各個(gè)高頻主導(dǎo)失效晶粒的各個(gè)結(jié)構(gòu)層的高頻失效尺寸、各個(gè)低頻主導(dǎo)失效晶粒的各個(gè)結(jié)構(gòu)層的低頻失效尺寸、當(dāng)前高頻主導(dǎo)失效權(quán)重值和晶圓的各個(gè)結(jié)構(gòu)層的設(shè)計(jì)尺寸,獲取各個(gè)結(jié)構(gòu)層的失效偏差值,根據(jù)失效偏差值和預(yù)定偏差閾值,調(diào)整當(dāng)前高頻主導(dǎo)失效權(quán)重值,直至至少一個(gè)結(jié)構(gòu)層的失效偏差值滿足預(yù)定偏差閾值,獲取與最大的失效偏差值相對(duì)應(yīng)的最大失效影響層。本申請(qǐng)實(shí)施例所提供的電學(xué)失效分析方法,可以提高電學(xué)失效分析的準(zhǔn)確性。
本發(fā)明公開了一種用于電源濾波器失效分析的失效模式確認(rèn)及拆解方法,包括以下步驟:失效模式確認(rèn);電源濾波器拆解,具體包括以下步驟:開蓋;去外殼;預(yù)熱;勻速升溫;取出保溫;局部點(diǎn)吹;去除點(diǎn)吹部位的環(huán)氧樹脂;重復(fù)局部點(diǎn)吹和去除點(diǎn)吹部位的環(huán)氧樹脂,直至所有環(huán)氧樹脂被去除,得到電路組件。本發(fā)明通過預(yù)熱、勻速分段升溫、保溫、局部點(diǎn)吹加熱的方法將灌封組件的環(huán)氧樹脂進(jìn)行軟化,軟化后再通過掏膠工具對(duì)環(huán)氧樹脂進(jìn)行局部掏出,可在完全不損傷電路組件的前提下完成環(huán)氧樹脂的解剖,最終實(shí)現(xiàn)對(duì)環(huán)氧樹脂灌封的電源濾波器的順利拆解,得到的電路組件完整,沒有二次損傷,環(huán)氧樹脂被全部取出,顯著有利于后期失效分析的準(zhǔn)確性提高。
本發(fā)明公開了一種考慮失效傳遞和失效模式共因的故障樹分析方法,包括以下步驟:同層基本事件獨(dú)立不相關(guān)性分析;中間層事件和關(guān)鍵底事件限制相關(guān)參數(shù)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)建立;基于基本事件基本屬性和基本事件分類方法的相關(guān)性組合模型;隨機(jī)擾動(dòng)源作用下失效模式共因失效分析;考慮共因失效的失效模式串聯(lián)系統(tǒng)故障樹頂事件概率分析。本發(fā)明所述分析方法計(jì)算結(jié)果準(zhǔn)確,適合推廣應(yīng)用。
本發(fā)明涉及光通信領(lǐng)域,本發(fā)明公開了一種支持光器件壽命預(yù)測(cè)和失效原因分析的裝置,包括處理器CPU、存儲(chǔ)器、光模塊狀態(tài)采集單元、光模塊通訊接口,所述處理器CPU分別與所述存儲(chǔ)器、光模塊狀態(tài)采集單元、光模塊通訊接口連接;所述處理器CPU用于根據(jù)光模塊的壽命參數(shù)和運(yùn)行參數(shù)進(jìn)行判斷,并以判斷結(jié)果為依據(jù)預(yù)測(cè)出光模塊的壽命;所述存儲(chǔ)器用于保存光模塊的壽命參數(shù)和運(yùn)行參數(shù);所述光模塊狀態(tài)采集單元用于采集光模塊的運(yùn)行參數(shù);所述光模塊通訊接口用于與外部管理端的通訊。本發(fā)明還公開了一種支持光器件壽命預(yù)測(cè)和失效原因分析的方法,處理器CPU根據(jù)光模塊的壽命參數(shù)和運(yùn)行參數(shù),計(jì)算出光模塊當(dāng)前所處的壽命階段,作為是否需要更換光模塊的依據(jù),有效預(yù)測(cè)出光模塊的壽命,同時(shí)存儲(chǔ)的光模塊運(yùn)行參數(shù)可作失效原因的統(tǒng)計(jì)分析使用。
本發(fā)明公開了引入內(nèi)檢測(cè)數(shù)據(jù)的地震作用下腐蝕管道失效概率分析方法,對(duì)不同檢測(cè)時(shí)間下所獲得的管道內(nèi)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行特征匹配;基于特征匹配結(jié)果,分別在軸向、周向和徑向上建立獨(dú)立的管道腐蝕隨機(jī)增長(zhǎng)模型;通過伽瑪分布聯(lián)立三個(gè)管道腐蝕隨機(jī)增長(zhǎng)模型,得到3D依賴的腐蝕隨機(jī)增長(zhǎng)模型,嵌入貝葉斯推斷中,再通過MCMC模擬技術(shù)對(duì)貝葉斯推斷進(jìn)行更新,得到更新的3D腐蝕隨機(jī)增長(zhǎng)模型,建立等效地震作用下的腐蝕管道失效概率模型,結(jié)合失效條件,評(píng)估腐蝕管道的失效概率。本發(fā)明可解決現(xiàn)有技術(shù)僅從徑向上估計(jì)腐蝕缺陷增長(zhǎng)的問題,實(shí)現(xiàn)綜合考慮管道腐蝕在三維方向的增長(zhǎng),以提高預(yù)測(cè)準(zhǔn)確性的目的。
中冶有色為您提供最新的四川成都有色金屬失效分析技術(shù)理論與應(yīng)用信息,涵蓋發(fā)明專利、權(quán)利要求、說明書、技術(shù)領(lǐng)域、背景技術(shù)、實(shí)用新型內(nèi)容及具體實(shí)施方式等有色技術(shù)內(nèi)容。打造最具專業(yè)性的有色金屬技術(shù)理論與應(yīng)用平臺(tái)!